識(shí)別由頻譜儀產(chǎn)生的失真高電平輸入信號(hào)可能會(huì)導(dǎo)致頻譜儀產(chǎn)生失真信號(hào)，此失真信號(hào)會(huì)掩蓋輸入信號(hào)上所要測(cè)量的真實(shí)失真。用戶(hù)可以通過(guò)使用軌跡和射頻衰減器來(lái)識(shí)別哪些信號(hào)，如果有的話(huà)，是由儀器內(nèi)部產(chǎn)生的失真。

此例中，我們用一個(gè)信號(hào)發(fā)生器輸出的信號(hào)作為信號(hào)源來(lái)識(shí)別諧波失真分量是否由頻譜儀產(chǎn)生。

1 將信號(hào)發(fā)生器連到頻譜儀的 RF IN。輸入的信號(hào)源的頻率和幅度分別設(shè)為 200 MHz，-10 dBm。

2 設(shè)置頻譜儀中心頻率和掃寬 :

? 按 [PRESET] ( 恢復(fù)為出廠(chǎng)設(shè)置 )

? 按 [FREQ] > 400 > MHz

? 按 [SPAN] > 700 > MHz

此信號(hào)在頻譜儀的輸入混頻器處所產(chǎn)生的諧波失真分量

( 以 200 MHz 的間隔與原 200 MHz 信號(hào)依次排開(kāi) ) 。

3 將中心頻率改為第一次諧波處的頻率值：

? 按 [Peak]

? 按 [Marker] > { 標(biāo)記移到 } > { 到中心 }

4 將掃寬改為 50 MHz，并重新將信號(hào)顯示在屏幕中央：

? 按 [SPAN] > 50 > MHz

? 按 [Peak]

5 設(shè)置衰減為 0 dB：

? 按 [Amptd] > { 衰減 } > 0 > dB

? 按 [Marker] > { 標(biāo)記移到 } > { 到參考 }

6 為了辨別諧波失真分量是否由頻譜儀產(chǎn)生，先在軌跡2 中顯示輸入信號(hào)：

? 按 [Trace] > 軌跡 2

? 按 [Trace] > { 刷新 }

7 先允許軌跡 2 進(jìn)行刷新 ( 最少進(jìn)行兩次掃描 )，然后保存軌跡 2 中的數(shù)據(jù)，并在軌跡 2 的諧波分量上放置一個(gè)差量標(biāo)記：

? 按 [Trace] > { 靜止 }

? 按 [Peak]

? 按 [Marker] > { 模式 }> { 差量 }

如圖 ，頻譜儀上現(xiàn)在顯示的是軌跡 2 中存儲(chǔ)的波形數(shù)據(jù)以及軌跡 1 中正在被測(cè)量的數(shù)據(jù)。 差量標(biāo)記指示的讀數(shù)為參考標(biāo)記和當(dāng)前激活的標(biāo)記之間的幅度差。

8 按 [AMPD] > { 衰減 } > 10 > {dB} 將射頻衰減調(diào)高到10 dB。

差量標(biāo)記的幅度差讀數(shù)受以下兩個(gè)因素的影響：

1) 增大輸入衰減會(huì)使信噪比惡化。從而導(dǎo)致差量標(biāo)記讀數(shù)為正。

2) 頻譜儀內(nèi)部電路對(duì)諧波的損耗會(huì)導(dǎo)致差量標(biāo)記讀數(shù)為負(fù)，大的差量標(biāo)記讀數(shù)表明有重大的測(cè)試誤差?？梢酝ㄟ^(guò)設(shè)置輸入衰減，使差量標(biāo)記的讀數(shù)最小。