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數(shù)字示波器動(dòng)態(tài)性能理解ADC中的ENOB(有效位數(shù))

發(fā)布日期:2025-09-26 13:57:55         瀏覽數(shù):   

隨著測量精度要求提升,有效位數(shù)(ENOB)已成為評估ADC、數(shù)字示波器真實(shí)性能的核心指標(biāo)。ENOB由IEEE定義,綜合了噪聲、抖動(dòng)、非線性失真等誤差,反映設(shè)備在實(shí)際使用中的“有效分辨率”。

隨著測量精度需求的不斷提升,理解示波器或數(shù)字示波器對測量結(jié)果的影響變得極其復(fù)雜。有效位數(shù)(ENOB)是ADC、數(shù)字化儀和數(shù)字示波器的重要性能指標(biāo),它能夠涵蓋大部分由信號采集引起的誤差。ENOB由IEEE定義,綜合了噪聲、抖動(dòng)、非線性失真等誤差,反映設(shè)備在實(shí)際使用中的“有效分辨率”。

有些模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)或示波器廠商會著重宣傳其產(chǎn)品的分辨率(Resolution)。分辨率是本底噪聲的決定因素之一,因?yàn)槟?shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)無法測量到±?最低有效位(LSB)以內(nèi)的變化。

有效位數(shù)(ENOB)與分辨率的關(guān)系

這種誤差被稱為量化噪聲(QuantizationNoise),它將信噪比限制為:SNR=6.02N+1.76dB其中,N=分辨率(比特?cái)?shù))。量化噪聲正是ENOB概念的由來。ENOB定義為:測得的ADC或儀器性能等效于一個(gè)僅受量化噪聲限制的理想ADC時(shí)的比特?cái)?shù)。舉例來說:一個(gè)標(biāo)稱12位的示波器若規(guī)格中寫明ENOB=8位,那么它等效于一個(gè)理想的8位ADC。

 

數(shù)字示波器動(dòng)態(tài)性能理解ADC中的ENOB(有效位數(shù))(圖1)

圖1–量化誤差示意圖

 

數(shù)字示波器動(dòng)態(tài)性能理解ADC中的ENOB(有效位數(shù))(圖2)

表1–數(shù)字示波器的±?LSB誤差

圖2展示了目前市面上四款示波器的ENOB??梢缘贸鰩讉€(gè)重要結(jié)論:標(biāo)稱的ADC位數(shù)和ENOB(有效位)相差甚遠(yuǎn)。尤其是圖中標(biāo)稱12位ADC和標(biāo)稱8位ADC的兩款示波器:在高頻下它們的ENOB相當(dāng),但在低頻段,8位示波器的ENOB甚至要明顯好于12位的示波器,這種反差讓人驚訝。

 

數(shù)字示波器動(dòng)態(tài)性能理解ADC中的ENOB(有效位數(shù))(圖3)

圖2–高帶寬示波器的ENOB比較

這四款儀器中,只有兩款的ENOB接近8位,才能真正發(fā)揮優(yōu)秀的量化噪聲性能。如果圖中性能**的10位示波器,其ADC位數(shù)降低為8位(保持系統(tǒng)其它部分不變),其在13GHZ時(shí)的ENOB,僅從7.4位降低到7.1位。同樣的假設(shè)下,另一款10位的示波器在13GHZ時(shí)的ENOB,也僅僅是從6.8位降低到6.7位。另一方面,標(biāo)稱12位的示波器在大部分頻段上的ENOB并不比8位示波器更好??梢?,ADC的名義上較高的分辨率,并不見得可以轉(zhuǎn)化為有效位數(shù)(ENOB)的明顯優(yōu)勢,或者說帶來更好的測量性能。

理解ENOB的意義在自動(dòng)化測試中也很重要。如果一個(gè)標(biāo)稱10位或12位的示波器,甚至都不能提供7位以上的ENOB,那么根本就沒有必要浪費(fèi)大量時(shí)間和硬盤空間,來傳輸和存儲16位數(shù)據(jù)(采樣數(shù)據(jù)用字節(jié)的方式存儲,超過8位的ADC數(shù)據(jù)會占用2個(gè)字節(jié),即16比特)。付出的大量時(shí)間和存儲成本,而對測量精度的提升微乎其微,得不償失。

 

數(shù)字示波器動(dòng)態(tài)性能理解ADC中的ENOB(有效位數(shù))(圖4)

有效位數(shù)(ENOB)的推導(dǎo)

數(shù)字示波器器性能下降通常表現(xiàn)為數(shù)字化信號上的噪聲水平增加。這里的“噪聲”是指輸入信號與數(shù)字化輸出之間的任意隨機(jī)或偽隨機(jī)誤差。數(shù)字化信號上的這種噪聲可通過信噪比(SNR)來表示:

 

數(shù)字示波器動(dòng)態(tài)性能理解ADC中的ENOB(有效位數(shù))(圖5)

其中,rms_signal是數(shù)字化信號的均方根值,rms_error是噪聲誤差的均方根值。與有效比特(EB)之間的關(guān)系可以表示為:

 


其中,A是輸入信號的幅度,而FS是ADC輸入的滿量程范圍:

 

數(shù)字示波器動(dòng)態(tài)性能理解ADC中的ENOB(有效位數(shù))(圖6)

其中N是數(shù)字示波器的標(biāo)稱(靜態(tài))分辨率,和

 

數(shù)字示波器動(dòng)態(tài)性能理解ADC中的ENOB(有效位數(shù))(圖7)

需要注意的是:所有這些公式都基于數(shù)字化過程中產(chǎn)生的噪聲或誤差水平。在公式(3)中,N位數(shù)字示波器的最小rms誤差為理想量化誤差(此時(shí)的ENOB等于N)。公式(2)與(3)均由IEEE數(shù)字化波形記錄儀標(biāo)準(zhǔn)(IEEEStd.1057)定義。公式(4)是公式(3)的一種替代形式。它假設(shè)理想量化誤差在一個(gè)最低有效位(LSB)峰-峰范圍內(nèi)均勻分布,因此理想量化誤差項(xiàng)可替換為FS/(2N√12),其中FS為數(shù)字示波器的滿量程輸入范圍。

另一個(gè)需要注意的重要點(diǎn)是:這些公式均基于輸入信號幅度正好等于ADC的滿量程范圍(FS)。在實(shí)際測試中,可能使用低于滿量程的測試信號(例如50%或90%滿量程)。這會導(dǎo)致ENOB的計(jì)算結(jié)果,比真實(shí)使用場景下要更好一些。因此,任何ENOB規(guī)格或測試結(jié)果的比較,都必須考慮測試信號的幅度和頻率。

 

數(shù)字化過程中的誤差來源

與數(shù)字化相關(guān)的噪聲或誤差可能來自多種來源。即便在一個(gè)理想的數(shù)字示波器中,仍然存在由量化帶來的最低噪聲或誤差。這種“量化誤差”大小約為±?LSB(最低有效位)。

真實(shí)的數(shù)字示波器還會疊加其他誤差,主要類別及影響如下:

■ 常見模擬相關(guān)誤差:直流偏置(含交流偏置 / 模式誤差)、增益誤差(直流和交流)、非線性(模擬部分)、非單調(diào)性(數(shù)字部分)、相位誤差、隨機(jī)噪聲等,這些誤差可能出現(xiàn)在從模擬信號輸入到數(shù)字化輸出的任意波形捕獲環(huán)節(jié),屬于放大器或模擬網(wǎng)絡(luò)中的經(jīng)典誤差。

■  采樣相關(guān)誤差:孔徑不確定性(采樣時(shí)刻抖動(dòng))和頻率(時(shí)基)不準(zhǔn)確性是與采樣相關(guān)的特有誤差。孔徑不確定性會導(dǎo)致幅度誤差,誤差大小與信號斜率正相關(guān),信號頻率越高、斜率越陡,相同抖動(dòng)下幅度誤差越大,進(jìn)而降低信噪比(SNR)和有效位數(shù)(ENOB);時(shí)基不準(zhǔn)確性則影響采樣的時(shí)間精度。

■ 其他誤差:還包括數(shù)字誤差(如亞穩(wěn)態(tài)導(dǎo)致的數(shù)據(jù)丟失、缺碼)、觸發(fā)抖動(dòng)等。

除去直流偏置和增益誤差外,ENOB能夠?qū)⑦@些誤差匯總為一個(gè)綜合的優(yōu)值指標(biāo)。

 

數(shù)字示波器動(dòng)態(tài)性能理解ADC中的ENOB(有效位數(shù))(圖8)

圖3 – 與非理想數(shù)字化相關(guān)的誤差

圖3展示了一些最基本的誤差類別,幫助直觀理解其影響。許多數(shù)字示波器中遇到的誤差,實(shí)際上是任何放大器或模擬網(wǎng)絡(luò)中都會出現(xiàn)的經(jīng)典誤差類型。例如:直流偏置、增益誤差、相位誤差、非線性和隨機(jī)噪聲,都可能出現(xiàn)在波形捕獲過程中的任意環(huán)節(jié)-從模擬波形輸入到數(shù)字化波形輸出。

另一方面,孔徑不確定性和時(shí)基不準(zhǔn)確性是波形數(shù)字化過程中與采樣相關(guān)的現(xiàn)象。圖4展示了孔徑不確定性的基本概念。

從圖 4 可以看出,孔徑不確定性會導(dǎo)致幅度誤差,并且誤差大小取決于信號斜率。信號斜率越陡,同樣時(shí)間抖動(dòng)導(dǎo)致的誤差幅度就越大??讖讲淮_定性只是在更高信號頻率或更大斜率下導(dǎo)致有效位數(shù)下降的諸多原因之一。然而,它是一個(gè)有用且直觀的例子,有助于我們理解與輸入信號頻率和幅度相關(guān)的問題。

 

數(shù)字示波器動(dòng)態(tài)性能理解ADC中的ENOB(有效位數(shù))(圖9)

圖4 – 孔徑不確定性(采樣抖動(dòng))

為了更深入理解孔徑不確定性的影響,假設(shè)信號是正弦波,示波器在正弦波的過零點(diǎn)位置進(jìn)行采樣:對于低頻正弦波,過零點(diǎn)的斜率較小,因此孔徑不確定性帶來的誤差也較小。隨著正弦波頻率的增加,過零點(diǎn)的斜率變大。結(jié)果是:在相同的孔徑不確定性或抖動(dòng)下,產(chǎn)生的幅度誤差更大。

更大的誤差意味著更低的信噪比(SNR),以及有效位數(shù)(ENOB)的下降。換句話說,隨著頻率升高,數(shù)字示波器性能下降。這可以通過以下公式表示:

 

數(shù)字示波器動(dòng)態(tài)性能理解ADC中的ENOB(有效位數(shù))(圖10)

當(dāng)信號幅度低于滿量程時(shí),正弦波過零點(diǎn)斜率減小,孔徑不確定性帶來的幅度誤差會減少,ENOB會相應(yīng)提高。因此,ENOB不僅取決于信號頻率,還與測試波形幅度相關(guān),對比ENOB需明確輸入波形幅度(通常為滿量程的50%或90%)及頻率。此外,輸入放大器滾降、采集后濾波等處理可能降低示波器內(nèi)部信號幅度,導(dǎo)致ENOB規(guī)格看似優(yōu)于實(shí)際測試值。

有效位數(shù)的測量過程

有效位數(shù)測量無需逐一區(qū)分誤差源,而是通過直接測量系統(tǒng)整體性能來計(jì)算,具體流程和注意事項(xiàng)如下:

核心思路

給定理想輸入信號,測量數(shù)字化系統(tǒng)引入的總體誤差,先確定系統(tǒng)信噪比(SNR),再依據(jù)相關(guān)公式計(jì)算 ENOB,以此作為不同系統(tǒng)性能比較的直觀通用優(yōu)值指標(biāo)。

基本測試流程

?  信號輸入:向示波器輸入已知高質(zhì)量正弦波(易產(chǎn)生且易表征),要求正弦波發(fā)生器性能顯著優(yōu)于被測示波器(最好高10dB以上),必要時(shí)加濾波器抑制信號源諧波,避免其誤差干擾測量。

?  波形分析:用計(jì)算機(jī)分析數(shù)字化波形,先構(gòu)建理想正弦波模型(公式:A?sin (2πft+Θ)+C,其中A為幅度、f為頻率、Θ為相位、t為時(shí)間、C為直流偏置),通過軟件算法擬合數(shù)字化波形得到該模型,此模型視為示波器輸入端模擬信號描述(直流偏置、增益、相位、頻率誤差未包含在內(nèi),需單獨(dú)測試)。

?  誤差計(jì)算:模擬理想N位示波器對輸入信號的輸出,計(jì)算理想正弦波與理想數(shù)字化結(jié)果的差異,其均方根值即為理想量化誤差,用于后續(xù)ENOB計(jì)算。

ENOB

ENOB匯總了數(shù)字化系統(tǒng)的多個(gè)關(guān)鍵誤差,形成一個(gè)簡單直觀的指標(biāo)。但它依賴于輸入信號占滿量程的百分比。測試應(yīng)盡量在接近滿量程(通常為90%)下進(jìn)行,同時(shí)避免因噪聲或帶寬造成削頂。使用較低幅度的信號(相較于滿刻度量程),會降低采樣抖動(dòng)和諧波失真對ENOB 的影響;但弊大于利,實(shí)際操作中仍然要盡量避免。

選擇測試信號頻率時(shí)要避免與采樣率產(chǎn)生諧波關(guān)系,否則可能出現(xiàn)拍頻干擾結(jié)果。因此,測試信號最好與采樣時(shí)鐘保持異步。

觸發(fā)也是一個(gè)需要注意的環(huán)節(jié):一般應(yīng)使用單次采樣模式捕獲信號,以消除觸發(fā)抖動(dòng)對ENOB測試的影響,集中評估數(shù)字示波器本身性能。

高帶寬儀器常需重復(fù)觸發(fā)和等效時(shí)間采樣構(gòu)建完整波形,會引入額外觸發(fā)抖動(dòng)與長期漂移,增加噪聲,此時(shí)可能用信號平均降低噪聲以提高ENOB。若使用信號平均,需注明平均次數(shù);且采用信號平均的示波器與單次采樣的示波器,若工作模式不同,二者ENOB比較通常無效。此外,部分示波器通過信號平均處理,可能使ENOB高于標(biāo)稱ADC位數(shù)(如8位示波器表現(xiàn)得像10-11位),但會丟失原始波形非重復(fù)性細(xì)節(jié)。

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