這是一篇關(guān)于使用任意波形發(fā)生器生成雷達(dá)波形的應(yīng)用說(shuō)明文章，主要介紹了如何利用泰克公司的AWG70000B任意波形發(fā)生器及其軟件插件生成高質(zhì)量的雷達(dá)測(cè)試信號(hào)。文章詳細(xì)描述了推薦的硬件和軟件配置、波形生成方法以及AWG70000B系列儀器的特性和優(yōu)勢(shì)。以下是對(duì)這些核心內(nèi)容的簡(jiǎn)要概述：

1. 使用任意波形發(fā)生器生成雷達(dá)信號(hào)的優(yōu)勢(shì):

任意波形發(fā)生器（AWG）適用于生成雷達(dá)測(cè)試信號(hào)，因?yàn)槔走_(dá)系統(tǒng)需要寬帶測(cè)試信號(hào)來(lái)檢查各子系統(tǒng)（如放大器、天線、接收器等）的正確運(yùn)行。

AWG能夠提供低抖動(dòng)觸發(fā)和標(biāo)記時(shí)間輸出，適用于需要精確定時(shí)（低至納秒級(jí)）的雷達(dá)系統(tǒng)測(cè)試。

2. 推薦的硬件配置:

推薦的AWG型號(hào)包括AWG70001B（單通道，最高20 GHz信號(hào)頻率）、AWG70002B（雙通道，最高10 GHz信號(hào)頻率）、AWG5202（雙通道，最高2 GHz信號(hào)頻率）等。

對(duì)于需要多通道同步的復(fù)雜測(cè)試，Tektronix提供AWGSYNC01同步中心，可同步最多四臺(tái)AWG70000系列儀器。

3. 推薦的軟件工具:

使用AWG的用戶界面或Tektronix的SourceXpress軟件進(jìn)行波形創(chuàng)建和編輯。

SourceXpress提供高級(jí)功能，簡(jiǎn)化波形生成過(guò)程，支持離線仿真和波形保存。

重要插件包括雷達(dá)插件、S參數(shù)插件、環(huán)境插件和預(yù)補(bǔ)償插件，用于創(chuàng)建復(fù)雜雷達(dá)信號(hào)和模擬真實(shí)環(huán)境。

4. AWG70000B系列信號(hào)生成硬件控制:

AWG70000B系列使用10位高分辨率數(shù)字模擬轉(zhuǎn)換器（DAC），提供低雜散輸出和高幅度分辨率。

支持外部黃金微波采樣時(shí)鐘輸入，實(shí)現(xiàn)低抖動(dòng)和高精度定時(shí)。

提供高級(jí)硬件波形序列器，可生成復(fù)雜的長(zhǎng)脈沖序列。

5. AWG70000系列硬件序列器:

硬件波形序列器可減少內(nèi)存需求，通過(guò)重復(fù)使用單個(gè)波形實(shí)例生成復(fù)雜脈沖序列。

支持外部觸發(fā)輸入和內(nèi)部定時(shí)器，序列長(zhǎng)度可達(dá)16383步，波形的重復(fù)計(jì)數(shù)范圍為1至1048576。

序列器可控制四個(gè)輔助輸出，用于觸發(fā)外部測(cè)試設(shè)備。

6. 雷達(dá)插件的使用:

雷達(dá)插件幫助創(chuàng)建基于脈沖寬度、包絡(luò)形狀、脈沖重復(fù)間隔（PRI）、調(diào)制類型等參數(shù)的雷達(dá)信號(hào)。

支持多種調(diào)制類型（如線性調(diào)頻LFM、步進(jìn)頻率調(diào)制等）和脈沖組設(shè)置，可模擬多路徑干擾和天線掃描。

7. 示例波形生成:

示例1介紹了雷達(dá)插件的基本使用，生成帶矩形包絡(luò)的雷達(dá)脈沖信號(hào)。

示例2展示了如何生成帶有交錯(cuò)PRI和LFM調(diào)制的1 GHz雷達(dá)信號(hào)。

示例3演示了如何生成帶有步進(jìn)頻率調(diào)制的基帶IQ信號(hào)，并使用序列器進(jìn)行復(fù)雜信號(hào)生成。

8. 附加特性和插件支持:

S參數(shù)插件支持導(dǎo)入用戶S參數(shù)文件，用于嵌入或解嵌已知的電纜損耗和濾波器響應(yīng)。

環(huán)境插件允許模擬復(fù)雜的射頻環(huán)境，包括多個(gè)發(fā)射器和干擾信號(hào)。

預(yù)補(bǔ)償插件用于校正由于電纜損失和硬件滾降引起的頻率響應(yīng)不平坦。

這篇文章為使用泰克AWG70000B任意波形發(fā)生器生成雷達(dá)測(cè)試信號(hào)提供了詳細(xì)的指導(dǎo)，通過(guò)介紹硬件特性、軟件工具和插件功能，展示了如何高效地創(chuàng)建和生成高質(zhì)量的雷達(dá)信號(hào)，適用于各種雷達(dá)系統(tǒng)和子系統(tǒng)的測(cè)試和驗(yàn)證。