Keysight N5227A網(wǎng)絡(luò)分析儀偏振片電磁特性測(cè)試
應(yīng)客戶需求，安泰測(cè)試做了偏振片電磁特性測(cè)試，以下是測(cè)試方案
被測(cè)件：偏振片
厚度：帶膜（230um）；不帶膜（160um）
測(cè)試要求及內(nèi)容：不帶膜條件下，不同角度的Q值和介電常數(shù)值（0~360°）
測(cè)試儀器：Keysight N5227A；
分析軟件：Keysight N1500A；
介電常數(shù)分析軟件：自研軟件；
測(cè)試頻點(diǎn)：3.4GHz
網(wǎng)分空腔測(cè)試
現(xiàn)場(chǎng)圖片及曲線（0°）
現(xiàn)場(chǎng)圖片及曲線（90°）
現(xiàn)場(chǎng)圖片及曲線（180°）
現(xiàn)場(chǎng)圖片及曲線（270°）
現(xiàn)場(chǎng)圖片及曲線（360°）
測(cè)試數(shù)據(jù)匯總
角度（°） | 頻率（MHz） | Q值 | 介電常數(shù) | 厚度（mm） |
0 | 3389.009 | 1768 | 2.8416 | 0.16 |
90 | 3390.261 | 2732 | 2.7177 | 0.16 |
180 | 3389.004 | 1768 | 2.842 | 0.16 |
270 | 3390.412 | 2845 | 2.7024 | 0.16 |
360 | 3389.001 | 1760 | 2.8423 | 0.16 |
根據(jù)數(shù)據(jù)分析，偏振片不同角度下的 Q 值和介電常數(shù)
用以評(píng)估偏振片微觀結(jié)構(gòu)（分子取向、晶體結(jié)構(gòu)、缺陷分布等）各向異性在宏觀介電性能上的體現(xiàn)。
通過分析其角度依賴性，揭示偏振片內(nèi)部結(jié)構(gòu)的方向性特征，并關(guān)聯(lián)到偏振片的偏振效率、能量損耗等關(guān)鍵功能參數(shù)，為優(yōu)化制備工藝、提升性能提供依據(jù)。
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