吉時利源表在四探針法測量半導體電阻率測試方案
系統(tǒng)背景：
電阻率是決定半導體材料電學特性的重要參數(shù)，為了表征工藝質量以及材料的摻雜情況，需要測試材料的電阻率。半導體材料電阻率測試方法有很多種，其中四探針法具有設備簡單、操作方便、測量精度高以及對樣品形狀無嚴格要求的特點。目前檢測半導體材料電阻率，尤其對于薄膜樣品來說，四探針是最常用的方法。
四探針技術要求使用四根探針等間距的接觸到材料表面。在外邊兩根探針之間輸出電流的同時，測試中間兩根探針的電壓差。最后，電阻率通過樣品的幾何參數(shù)，輸出的電流和測到的電壓值來計算得出。
四探針法測量半導體電阻率測試方案，使用美國吉時利公司開發(fā)的高精度源測量單元（SMU），既可以在輸出電流時測試電壓，也可以在輸出電壓時測試電流，。輸出電流范圍從皮安級到安培級可控，測量電壓分辨率高達微伏級，。支持四線開爾文模式，因此適用于四探針測試，可以簡化測試連接，得到準確的測試結果。
不同材料的電阻率特性
方案特點：
-系統(tǒng)提供上位機軟件，內(nèi)置電阻率計算公式，符合國標硅單晶電阻率測試標準，測試結束后直接從
電腦端讀取計算結果，方便后續(xù)數(shù)據(jù)的處理分析；
-提供正向/反向電流換向測試，可以通過電流換向消除熱電勢誤差影響，提高測量精度值；
-四探針頭采用碳化鎢材質，間距1毫米，探針位置精確穩(wěn)定。采用懸臂式結構，探針具有壓力行程，
針對不同材料的待測件，不同針尖直徑的針頭選項；
-探針臺具備粗/細兩級高度調(diào)整，細微調(diào)整時，高度分辨率高達2微米，精密控制探針頭與被測物之間
的距離，防止針頭對被測物的損害；
-載物盤表面采用絕緣特氟龍涂層，降低漏電流造成的測試誤差。
高品質四探針頭，提供多種針尖直徑
粗細兩級針臂高度調(diào)節(jié)，分辨率高達2um
軟件功能：
-輸出電流并測試電壓，電阻，電阻率，電導率，薄層電阻等，記錄數(shù)據(jù)，并根據(jù)測試結果繪制曲線；
-軟件在Windows 7/8/10平臺下使用，測試方法符合GB/T 1551/1552等國家測試標準；
-提供多種修正參數(shù)幫助提高電阻率測試精度；
-配合吉時利2450/2460/2461高精度源表使用，確保測試精度和一致性。
系統(tǒng)結構：
系統(tǒng)主要由吉時利源表（SMU）、四探針臺和上位機軟件組成。四探針可以通過前面板香蕉頭或后面板排線接口接到源表上。
系統(tǒng)指標：
電阻率測試范圍：0.001Ω?cm~100MΩ?cm
探針頭壓力合力：S型懸臂式彈簧，合力6~10 N
絕緣電阻：500V下>1GΩ
系統(tǒng)誤差：<2%(<1Ω?cm時，誤差小于0.5%)
探針頭間距：1mm,1.27mm,1.59mm可選，使用紅寶石套軸，探針游移率<0.2%
針尖壓痕直徑：25 um~450um不同規(guī)格可選
通信接口：LAN/USB/GPIB
探針臺尺寸：240mm x 160mm x 280mm
系統(tǒng)配置：
四探針探針臺
四探針針頭
源表端四線香蕉頭連接線
四探針測試軟件
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