滿足器件集成度大幅增長(zhǎng)要求，具有超越E5071C的器件S參數(shù)表征特性的更完整測(cè)試性能，以及高達(dá)53GHz的更靈活射頻/微波測(cè)量功能，為研發(fā)和制造測(cè)試應(yīng)用提供更全面解決方案。

　　器件的集成度越來(lái)越高，要對(duì)它們進(jìn)行全面的性能表征，必須采用完整的射頻和微波測(cè)量解決方案。 E5080B 具有高達(dá) 53 GHz 的頻率范圍和先進(jìn)的測(cè)試功能，可以為研發(fā)人員提供靈活的測(cè)試能力。 出色的動(dòng)態(tài)范圍、跡線噪聲和溫度穩(wěn)定度能夠確保測(cè)量的高可靠性和高可重復(fù)性。

　　E5080B ENA 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀可對(duì)無(wú)源元器件、放大器、混頻器和變頻器進(jìn)行全面的器件表征。 您可以使用整合了多種功能(例如直流電源、偏置 T 型接頭、脈沖發(fā)生器、脈沖調(diào)制器和內(nèi)部第二電源)的一體化分析儀執(zhí)行更多測(cè)試。 借助頻譜分析、混頻器測(cè)量和噪聲系數(shù)測(cè)量等應(yīng)用軟件獲得更深入的見(jiàn)解。 可以選擇 2 端口或 4 端口選件，覆蓋從 9 kHz 到 20 GHz 的頻率范圍，或覆蓋從 100 kHz 到 53 GHz 的更高頻率范圍。

　　E5080B 采用了與 PNA、PXI 和 USB VNA 等其他是德科技矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA)相同的測(cè)量技術(shù)。 通用軟件平臺(tái)讓您可以輕松方便地選擇合適的性能水準(zhǔn)，更契合您的預(yù)算和測(cè)量需求。 這個(gè)通用平臺(tái)可在研發(fā)和制造過(guò)程中確保多臺(tái)儀器的測(cè)量結(jié)果始終保持高度的一致性和可重復(fù)性，并為這些儀器提供通用的遠(yuǎn)程編程接口

　　KEYSIGHT E5080B ENA矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀

　　是德科技目前功能較全面、使用較靈活的 ENA 網(wǎng)絡(luò)分析儀

　　特點(diǎn)：KEYSIGHT E5080B ENA矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀

　　1、新標(biāo)準(zhǔn)

　　器件的集成度越來(lái)越高，要對(duì)它們進(jìn)行全面的性能表征，必須采用完整的射頻和微波測(cè)量解決方案。 E5080B 具有高達(dá) 53 GHz 的頻率范圍和先進(jìn)的測(cè)試功能，可以為研發(fā)人員提供靈活的測(cè)試能力。 出色的動(dòng)態(tài)范圍、跡線噪聲和溫度穩(wěn)定度確保其測(cè)量結(jié)果非?？煽?、可重復(fù)性高。

　　寬廣的頻率范圍――從 9 kHz 至 4.5/6.5/9/14/20 GHz，或從 100 kHz 至 26.5/32/44/53 GHz

　　140 dB 的寬廣動(dòng)態(tài)范圍使其能夠完整捕獲器件性能

　　內(nèi)置直流電源、偏置 T 型接頭、脈沖發(fā)生器和脈沖調(diào)制器等選件使其能夠執(zhí)行完整的器件表征

　　使用與高端 PNA 相同的用戶界面(UI)和 SCPI 命令，在研發(fā)階段與生產(chǎn)階段之間實(shí)現(xiàn)始終一致的測(cè)試

　　一臺(tái)儀器即可提供頻譜分析、脈沖射頻測(cè)量、矢量混頻器測(cè)量、噪聲系數(shù)測(cè)量等多種功能，顯著提高測(cè)量吞吐量

　　綜合功能：KEYSIGHT E5080B ENA矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀

　　E5080B 綜合了多種儀器的功能，可以顯著降低配置這些儀器的成本和復(fù)雜性。 E5080B 通過(guò)綜合硬件功能可執(zhí)行許多不同的測(cè)試，因而成為一款更全面的測(cè)量解決方案。

　　2、E5080B 的選件包括：

　　直流電源

　　脈沖發(fā)生器和調(diào)制器

　　頻譜分析

　　噪聲系數(shù)測(cè)量

　　3、E5080B 網(wǎng)絡(luò)分析儀軟件

　　網(wǎng)絡(luò)分析儀軟件工具支持您在各種測(cè)量應(yīng)用中調(diào)查、表征自己的設(shè)計(jì)以及診斷設(shè)計(jì)問(wèn)題。 借助 E5080B 上的高級(jí)時(shí)域分析、頻譜分析、脈沖-射頻測(cè)量等應(yīng)用軟件，可以讓復(fù)雜的測(cè)量變得輕松異常。　　

　　下圖為 E5080B ENA矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀 和 E5092A可配置的多端口測(cè)試儀 的聯(lián)用示意圖